البحث في المواصفات
Loading facets. please wait
(304)
(4)
(2)
(121)
(99)
(88)
(2)
(0)
(148)
(14)
(12)
(9)
(6)
(0)
(0)
(0)
(0)
(0)
جاري تصفية النتائج، الرجاء الانتظار...
ISO 24465:2023
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Determination of the minimum detectability of surface plasmon resonance device
GSO ISO 6145-1:2023
ISO 6145-1:2019
مواصفة قياسية خليجية
تحليل الغاز -تحضير خلائط غازات المعايرة باستخدام الطرائق الديناميكية - الجزء الاول: جوانب عامة
ISO 18115-1:2023
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
ISO/TS 22933:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
ISO 23729:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
BH GSO ISO 6142-1:2022
GSO ISO 6142-1:2021
مواصفة قياسية بحرينية
تحليل الغاز- تحضير مخاليط الغازات المعاير – الجزء الاول : الطريقة الوزنية لمخاليط الدرجة الاولى
ISO 14606:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials
ISO 18115-3:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 3: Terms used in optical interface analysis
BH GSO ISO 19229:2022
GSO ISO 19229:2021
مواصفة قياسية بحرينية
التحاليل الغازية- تحليل ومعالجة بيانات النقاء
BH GSO ISO/TR 18394:2022
GSO ISO/TR 18394:2021
مواصفة قياسية بحرينية
التحاليل الكيميائية للسطح- التحليل الطيفي الاليكتروني بالاختراق - اشتقاق معلومات كيميائية
ISO 17109:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
ISO 17862:2022
مواصفة قياسية دولية
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers