ISO 23170:2022
مواصفة قياسية دولية
الإصدار الحالي
·
اعتمدت بتاريخ
١٥ يونيو ٢٠٢٢
Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
ملفات الوثيقة ISO 23170:2022
الإنجليزية
29 صفحات
الإصدار الحالي
69.9 BHD
مجال الوثيقة ISO 23170:2022
This document specifies a method for the quantitative depth profiling of amorphous heavy metal oxide ultrathin films on Si substrates using medium energy ion scattering (MEIS).
الأكثر مبيعاً
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 150-2:2015
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية بحرينية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 2055-1:2016
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية بحرينية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية خليجية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
اعتمدت مؤخراً
ISO/IEC 23009-9:2025
مواصفة قياسية دولية
Information technology — Dynamic adaptive streaming over HTTP (DASH) — Part 9: Redundant encoding and packaging for segmented live media (REaP)
ISO/IEC TR 27599:2025
مواصفة قياسية دولية
Information technology — Brain-computer interfaces — Use cases
ISO 4517:2025
مواصفة قياسية دولية
Physical vapor deposition (PVD) coatings — Contact angle measurement of metallic hydrophobic PVD coatings
ISO 15237:2025
مواصفة قياسية دولية
Coal — Determination of total mercury