ISO 23170:2022
مواصفة قياسية دولية
الإصدار الحالي
·
اعتمدت بتاريخ
١٥ يونيو ٢٠٢٢
Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
ملفات الوثيقة ISO 23170:2022
الإنجليزية
29 صفحات
الإصدار الحالي
73.01 BHD
مجال الوثيقة ISO 23170:2022
This document specifies a method for the quantitative depth profiling of amorphous heavy metal oxide ultrathin films on Si substrates using medium energy ion scattering (MEIS).
الأكثر مبيعاً
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 150-2:2015
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية بحرينية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 2055-1:2016
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية بحرينية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية خليجية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
اعتمدت مؤخراً
ISO 16408:2025
مواصفة قياسية دولية
Dentistry — Oral care products — Oral rinses
ISO 16383-1:2025
مواصفة قياسية دولية
Geotechnical investigation and testing — Laboratory testing of rock — Part 1: Determination of water content
ISO 2361:2025
مواصفة قياسية دولية
Electrodeposited nickel coatings on magnetic and non-magnetic substrates — Measurement of coating thickness — Magnetic method
ISO/TS 6226:2025
مواصفة قياسية دولية
Health informatics — Reference architecture for syndromic surveillance systems for infectious diseases