ISO 23170:2022
مواصفة قياسية دولية
الإصدار الحالي
·
اعتمدت بتاريخ
١٥ يونيو ٢٠٢٢
Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
ملفات الوثيقة ISO 23170:2022
الإنجليزية
29 صفحات
الإصدار الحالي
BHD
76.97
مجال الوثيقة ISO 23170:2022
This document specifies a method for the quantitative depth profiling of amorphous heavy metal oxide ultrathin films on Si substrates using medium energy ion scattering (MEIS).
الأكثر مبيعاً
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 150-2:2015
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية بحرينية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
GSO 9:2022
لائحة فنية خليجية
بطاقات المواد الغذائية المعبأة
BH GSO 9:2023
GSO 9:2022
لائحة فنية بحرينية
بطاقات المواد الغذائية المعبأة
اعتمدت مؤخراً
ISO 14505-1:2026
مواصفة قياسية دولية
Ergonomics of the thermal environment — Evaluation of thermal environments in vehicles — Part 1: Principles and methods for assessment of thermal stress
ISO 11228-3:2026
مواصفة قياسية دولية
Ergonomics — Manual handling — Part 3: Repetitive movements and exertions of the upper limbs
ISO 12236:2026
مواصفة قياسية دولية
Geosynthetics — Static puncture test (CBR test)
ISO 12179:2026
مواصفة قياسية دولية
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile — Calibration of contact (stylus) instruments