ISO 23170:2022
مواصفة قياسية دولية
الإصدار الحالي
·
اعتمدت بتاريخ
١٥ يونيو ٢٠٢٢
Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
ملفات الوثيقة ISO 23170:2022
الإنجليزية
29 صفحات
الإصدار الحالي
73.24 BHD
مجال الوثيقة ISO 23170:2022
This document specifies a method for the quantitative depth profiling of amorphous heavy metal oxide ultrathin films on Si substrates using medium energy ion scattering (MEIS).
الأكثر مبيعاً
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية خليجية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 150-2:2015
GSO 150-2:2013
مواصفة قياسية بحرينية
فترات صلاحية المنتجات الغذائية - الجزء الثاني :
فترات الصلاحية الاختيارية
BH GSO 2055-1:2016
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية بحرينية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
GSO 2055-1:2015
لائحة فنية خليجية
الأغذية الحلال – الجزء الأول : الاشتراطات العامة للأغذية الحلال
اعتمدت مؤخراً
ISO 3095:2025
مواصفة قياسية دولية
Railway applications — Acoustics — Measurement of noise emitted by railbound vehicles
ISO 16681:2025
مواصفة قياسية دولية
Ships and marine technology — Pilot transfer arrangements — Ship hull securing equipment
ISO 10280:2025
مواصفة قياسية دولية
Steel and iron — Determination of titanium content — Diantipyrylmethane spectrophotometric method
ISO 37009:2025
مواصفة قياسية دولية
Conflict of interest in organizations — Guidance